激光粒度分析儀是如何測(cè)試顆粒物粒度大小

原理

1.*測(cè)量范圍米氏透射基礎(chǔ)理論HL系列激光粒度分布采用*測(cè)量范圍米氏透射基礎(chǔ)理論，充分考慮了助懸劑和待測(cè)顆粒的折光率，融合**的檢測(cè)裝置，依據(jù)大小不一的顆粒在各個(gè)角度上漫射光高的轉(zhuǎn)變來(lái)反表演顆粒群的粒度分布大小粒度分析規(guī)律性;

2.HL系列激光粒度分析儀采用**的過(guò)來(lái)人線性擬合逆變技術(shù)方式、頻帶變大技術(shù)性，數(shù)據(jù)處理方法后可以獲得更加真實(shí)的分布特征，針對(duì)高等院校、研究室等科學(xué)合理科研型顧客具備至關(guān)重要的實(shí)際意義;

3.HL納米技術(shù)激光粒度分析儀采用企業(yè)****CR-128數(shù)據(jù)相關(guān)器。*內(nèi)激光粒度儀公司，所有采用是指“靜態(tài)數(shù)據(jù)光散射基礎(chǔ)理論”，此理論測(cè)試的高效低限只有做到50納米技術(shù)，針對(duì)較小的顆粒則束手無(wú)策。納米技術(shù)顆粒檢測(cè)務(wù)必采用“動(dòng)態(tài)光散射”技術(shù)性，而實(shí)現(xiàn)此科技的關(guān)鍵構(gòu)件--相關(guān)器一直由海外壟斷性，HL納米激光粒度分析儀先打破了此項(xiàng)技術(shù)的**壟斷，為*內(nèi)填了技術(shù)空白，可測(cè)試0.3-3600um大小的顆粒。

激光粒度儀是基于光衍射現(xiàn)象設(shè)計(jì)的，當(dāng)光通過(guò)顆粒時(shí)產(chǎn)生衍射現(xiàn)象（其本質(zhì)是電磁波和物質(zhì)的相互作用）。衍射光的角度與顆粒的大小成反比。

不同大小的顆粒在通過(guò)激光光束時(shí)其衍射光會(huì)落在不同的位置，位置信息反映顆粒大??；同樣大的顆粒通過(guò)激光光束時(shí)其衍射光會(huì)落在相同的位置。衍射光強(qiáng)度的信息反映出樣品中相同大小的顆粒所占的百分比多少。

激光衍射法就是采用一系列的光敏檢測(cè)器來(lái)測(cè)量位置粒徑的顆粒在不同角度上的衍射光的強(qiáng)度，使用衍射模型，通過(guò)數(shù)學(xué)反演，然后得到樣品的粒度分布。

通過(guò)該位置檢測(cè)器接收到的衍射光強(qiáng)度，得到所對(duì)應(yīng)顆粒粒徑的百分比含量。

顆粒衍射光的強(qiáng)度對(duì)角度的依賴(lài)性是隨著顆粒粒徑的變小而降低，當(dāng)顆粒小到幾百納米時(shí)，其衍射光強(qiáng)對(duì)于角度幾乎失去依賴(lài)性，即此時(shí)的衍射光會(huì)分布在很寬的角度范圍內(nèi)，而且單位面積上的光強(qiáng)很弱，這增加了檢測(cè)的難度。